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金屬化薄膜電容器的失效原因分析
金屬化薄膜電容器的失效原因主要包括以下幾個(gè)方面：局部放電造成由于加工過程中介質(zhì)中存在微小氣隙，金屬化電容器“過度自愈”造成氣隙，導(dǎo)
2024-01-13 了解詳情 -
什么情況下使用壓敏電阻
壓敏電阻主要用于在電路承受過壓時(shí)進(jìn)行電壓鉗位，吸收多余的電流以保護(hù)敏感器件。以下是一些具體的應(yīng)用場(chǎng)景：電源線或長(zhǎng)距離傳輸?shù)男盘?hào)線遇
2024-01-13 了解詳情 -
防干擾電容：薄膜電容與安規(guī)電容的應(yīng)用
在電子設(shè)備中，防干擾電容是至關(guān)重要的元件，用于抑制電磁干擾（EMI）和射頻干擾（RFI），保證電路的正常運(yùn)行。其中，薄膜電容和安規(guī)電容是
2024-01-13 了解詳情 -
薄膜電容：在50V電壓下的卓越表現(xiàn)
薄膜電容作為電子元器件的一種，其在不同電壓條件下的性能表現(xiàn)至關(guān)重要。以一種常見規(guī)格為例，50V電壓下的0 01μF薄膜電容，展現(xiàn)了卓越的特
2023-12-15 了解詳情
134-1751-8179
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